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產品詳情

  • 產品名稱：日本ADVANCE RIKO 光學交流熱擴散率測量裝置

  • 產品型號：LaserPIT-M2
  • 產品廠商：ADVANCE RIKO先進理工
  • 產品文檔：
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簡單介紹：
本裝置采用掃描激光加熱交流法，測量薄膜、薄板、薄膜等薄板材料的面內熱擴散率。 對于高導熱薄膜，還可以測量亞微米薄膜。
詳情介紹：
  • CVD金剛石、氮化鋁等高導熱薄板材料（厚度<500μm）的熱擴散率/導熱系數測量
  • 銅、鎳、不銹鋼等各種金屬薄板材料（厚度>5μm）的熱擴散率/導熱率測量
  • 玻璃、樹脂材料等低導熱薄板材料（厚度<500μm）的熱擴散率/導熱系數測量
  • 各向異性和高導熱石墨片（厚度 <100 μm）、聚合物薄膜（如聚酰亞胺、PET）（厚度 >5 μm）的熱擴散率/導熱率測量
  • 測量沉積在玻璃基板（30 μm 厚）上的氮化鋁薄膜、氧化鋁薄膜（100 至 300 nm 厚）等的熱導率
  • 沉積在玻璃基板（厚度 0.03mm）上的 DLC 薄膜（厚度 >1μm）的熱導率測量
  • 沉積在 PET 基底（0.1 毫米厚）上的有機染料薄膜（100-300 納米厚）的熱導率測量
  • 濺射用各種靶材的評價
  • 從金剛石到聚合物的各種薄片材料的面內熱擴散率測量
  • 適用于厚度3～500μm的自立式片材、薄膜、線材、纖維等多種材料
  • 可以使用微分法測量基板上形成的厚度為 100 nm 至 1000 nm 的薄膜的熱導率 ***室溫
  • 通過簡單的操作即可測量
  • 可使用專用軟件進行控制、測量和分析
  • 主體緊湊地集成了所有光學、控制和測量系統。

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