用于分析少量粉末樣品

如果樣品是粉末，則裝滿微抹刀就足夠了。直接激發光學系統甚至可以對*小直徑為 1 mm 的小樣品進行高靈敏度分析。

作為粉末X射線衍射的輔助裝置

理學X射線分析集成軟件SmartLab Studio II - NEX DE測量結果文件可以從PowderXRD插件的晶相自動搜索條件設置屏幕加載。通過NEX DE獲得的基本信息將反映在搜索條件中。

可從 Na 到 U 進行分析

它可用于從研究和開發到過程控制的通用目的。

使用 FP 方法進行無標準分析

標準配備塊狀FP法和薄膜FP法，可以輕松地對無法制備標準樣品的樣品進行定性和定量分析。還可以使用標準校準曲線法進行定量分析。

可以安裝在任何地方

僅使用 AC100V 電源工作，無需冷卻水。無需任命 X 射線工作主管。

產品名稱	NEX DE
方法	X 射線熒光分析 (XRF)
目的	固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析
技術	使用 SDD 檢測器的能量色散 XRF (EDXRF)
主要成分	12W-60kV X射線管、SDD探測器
選項	自動進樣器、旋轉器（單位置）
控制（電腦）	外部 PC、MS Windows® 操作系統、QuantEZ 軟件
機身尺寸	356（寬）×260（高）×351（深）毫米
重量	約27公斤（本體）
電源	單相 100/220 VAC 50/60 Hz，1.5 A