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產品詳情
  • 產品名稱:ESPEC埃斯佩克 大型加速壽命試驗裝置

  • 產品型號:EHS-432-L
  • 產品廠商:ESPEC埃斯佩克
  • 產品文檔:
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簡單介紹:
與常壓下的濕度測試相比,測試時間可以縮短。 除了標準產品外,還有兩種類型可容納更大的樣品輸入。 標準配備機械門鎖機構/門鎖**機構
詳情介紹:
兼容各種半導體測試標準
IEC 60068-2-66 小型電氣/電子零件(主要是非氣密密封零件) 不飽和
IEC 60749-4 半導體器件 不飽和
EIAJ ED-4701 半導體器件 不飽和
JESD22-A110E 非氣密密封(固體)設備 不飽和
JESD22-A102E 非密封IC、分立器件 飽和

*請選用M儀器進行符合上述測試標準的測試。


與其他測試標準的兼容性

JIS C 60068-2-66 集成電路和半導體器件中鋁金屬的腐蝕 不飽和
JPCA-ET08-2002 印刷線路板 不飽和

注:大型高加速壽命試驗裝置(EHS-432)依法屬于**壓力容器。 (*EHS-432L為長室尺寸,法律規定也屬于1類壓力容器。)因此,請在本設備交付和安裝前至少30天向除辦理《竣工檢驗申請和竣工檢驗》手續外,還需指定一名**壓力容器的作業監督員來使用和管理該設備。
對于海外出口,根據適用的標準,壓力容器有限制。請與我們聯系以獲取更多信息。

  • *寬范圍HAST測試、晶須加速測試和空氣HAST測試將單獨進行。請聯系我們的銷售部門。
  • * 對于樣品電源端子,我們將提出滿足客戶要求的規格。請聯系我們的銷售部門。
  • *向罐內引入高電壓的要求可能會導致罐內放電,因此我們將在確認詳細規格后單獨應對。請聯系我們的銷售部門。請注意,由于無法確保爬電距離等原因,這可能無法實現。請注意。
測試用例
  • 引線鍵合的連續性評估
樣品:半導體封裝
測試條件示例:130℃/85%rh 100h
  • LED濕度劣化評價
樣品:LED
測試條件示例:105℃/87%rh 250h
  • 晶須評估
樣品:印刷電路板
測試條件示例:120℃/85%rh 2500h
  • 遷移評估
樣品:印刷電路板
測試條件示例:110℃/85%rh 100h、130℃/85%rh 400h

*在使用HAST室的飽和測試和不飽和測試中,可以在比常溫常濕暴露更短的時間內再現該現象。可以進行符合IEC-68-2-66、IEC749和EIAJ ED-4701等標準的測試。



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